Рейтинг@Mail.ru
Фондовые рынки США слабо меняются на данных статистики и ожиданиях выступления главы ФРС - 26.08.2020, ПРАЙМ
Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на

Фондовые рынки США слабо меняются на данных статистики и ожиданиях выступления главы ФРС

Читать Прайм в
Дзен Telegram

 

МОСКВА, 26 авг — ПРАЙМ. Основные американские фондовые индексы в среду меняются незначительно, трейдеры ожидают сигналов от главы американского центробанка в Джексон-Хоуле, оценивая также внутреннюю статистику и корпоративные новости, свидетельствуют данные торгов.

По состоянию на 16.52 мск индекс Dow Jones Industrial Average (DJIA) опускался на 0,14%, до 28207,54 пункта, индекс высокотехнологичных компаний NASDAQ рос на 0,48%, до 11521,27 пункта, индекс широкого рынка S&P 500 увеличивался на 0,13%, до 3448 пунктов.

Трейдеры ожидают ежегодную конференцию в Джексон-Хоуле, которая начнется в четверг. Внимание рынков обращено на выступление главы Федеральной резервной системы (ФРС) США Джерома Пауэлла и его возможные заявления по монетарной политике.

Рынки обратили внимание и на макростатистику. Заказы на товары длительного пользование в США в июле выросли в месячном выражении на 11,2%, хотя ожидался рост только на 4,3%.

Поддержала торги также отчетность Hewlett Packard Enterprise. По итогам третьего квартала фингода выручка компании составила 6,8 миллиарда долларов, что на 13% выше уровня второго квартала и на 6% меньше год к году. Скорректированная разводненная прибыль на акцию составила 0,32 доллара, что выше прогноза в 0,25 доллара. Акции компании дорожают на 5,5%.

В четверг будет опубликована информация о динамике ВВП страны во втором квартале. Первая оценка предполагала падение показателя на рекордные 32,9% в пересчете на год, аналитики ожидают пересмотра снижения ВВП до 32,5%.

 

 
 
 
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии,
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Чаты
Заголовок открываемого материала