Рейтинг@Mail.ru
Фондовые индексы США выросли в пределах 2,6% - 06.11.2020, ПРАЙМ
Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на
%Аналитика - ПРАЙМ, 1920Экономика

Фондовые индексы США выросли в пределах 2,6%

%Нью-Йоркская фондовая биржа - ПРАЙМ, 1920, 06.11.2020
Читать Прайм в
Дзен Telegram

МОСКВА, 6 ноя — ПРАЙМ. Основные фондовые индексы США по итогам торгов четверга выросли в пределах 2,6%, в то время как инвесторы продолжают следить за подсчетом голосов на выборах президента США, свидетельствуют данные торгов.

По итогам торгов индекс Dow Jones Industrial Average (DJIA) вырос на 2%, до 28403,35 пункта, индекс высокотехнологичных компаний NASDAQ — на 2,59%, до 11890,93 пункта, индекс широкого рынка S&P 500 — на 1,96% до 3510,8 пункта.

Фондовые индексы демонстрируют уверенный рост в течение всей текущей недели. В том случае если в пятницу котировки будут торговаться в "зеленой зоне", недельный рост индексов станет максимальным с мая-апреля. На данный момент индексы выросли на 7-8%.

Оптимизм на американских биржах поддерживается новостями вокруг выбора президента страны и надеждами на победу представителя демократов Джо Байдена. Результаты голосования в ряде штатов пока неизвестны. По данным подсчетов ведущих американских телеканалов, лидирует Байден, хотя Трамп уверен, что если подсчитать "законные" голоса, то он выиграл выборы.

"Штаб Трампа хочет заявить, что они не принимают итог выборов и намерены оспорить его, но, похоже, рынок этим не обеспокоен…" — отметил управляющий партнер Kace Capital Advisors Кенни Полкари (Kenny Polcari), чье мнение приводит агентство Рейтер.

Кроме того, в четверг прошло заседание Федеральной резервной системы (ФРС) США, в рамках которого регулятор ожидаемо сохранил ставку на уровне 0-0,25% годовых. После оглашения решения биржи ускорили рост.

 
 
 
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии,
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Чаты
Заголовок открываемого материала