Рейтинг@Mail.ru
Миссия МВФ приехала в Киев обсуждать налоги и новый транш - 16.07.2024, ПРАЙМ
Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на
%Аналитика - ПРАЙМ, 1920Экономика
Миссия МВФ приехала в Киев обсуждать налоги и новый транш

Миссия МВФ прибыла на Украину обсуждать налоги и новый транш

© Фото : Public Domain/International Monetary FundЗдание МВФ
Здание МВФ - ПРАЙМ, 1920, 16.07.2024
Читать Прайм в
Дзен Telegram
МОСКВА, 16 июл - ПРАЙМ. Миссия Международного валютного фонда (МВФ) во главе с Гевином Греем прибыла в Киев для обсуждения налогов и очередного транша, сообщил постоянный представитель фонда на Украине Ваграм Степанян.
"Команда специалистов МВФ во главе с Гевином Греем начинает сегодня, 16 июля, встречи в Киеве с представителями власти Украины и другими партнерами. Дискуссии будут фокусироваться на налогово-бюджетных планах власти на второе полугодие текущего года и среднесрочную перспективу", - приводит слова Степаняна украинское издание Liga.net.
Как отмечает издание, 23 мая стало известно, что минфин Украины готовит законопроект, предусматривающий повышение военного сбора с 1,5% до 5% и распространение его на физических лиц-предпринимателей, также предполагается увеличение налога на добавленную стоимость.
Накануне депутат Верховной рады Роксолана Пидласа сообщила о необходимости в текущем году закрыть "дыру" в бюджете Украины в размере 400-500 миллиардов гривен (9,8-12,2 миллиарда долларов).
Как заявляла ранее украинский парламентарий Александра Устинова, дыры в госбюджете закрывают с помощью западного финансирования, в случае прекращения помощи от США власти будут вынуждены обращаться "с протянутой рукой" к странам G7. В конце ноября Владимир Зеленский подписал проект закона о государственном бюджете Украины на 2024 год с дефицитом более 43 миллиардов долларов.
 
 
 
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии,
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Чаты
Заголовок открываемого материала